高低温对闪存误码率的影响（低温篇）

日期：2016-09-18   标签：高低温对闪存误码率的影响（低温篇）   来源：瑞耐斯存储技术-微信公众号

      温度对电子产品性能和稳定性的影响是毋庸置疑的，对于提供工业和军工级别的SSD厂商来说，不仅仅是选用工规器件那么简单，从控制器参数的冗余设定到外围电路的布线、PCB板材的选择都需要经过真正的高温、低温测试才能得出精确的参数。

低温测试是件耗时、费电的工作，5000W的降温设备嗡嗡响了整整两天。

高低温测试过程中最大的问题在于从低温到高温转换的过程中，芯片管脚和底部的结霜会融化，很容易造成短路。低温状态下，线路板和元器件表面完全被结霜所覆盖：

从低温箱中取出，线路板表面很快就被水分覆盖：

首先看MLC低温测试

低温测试温度区间包括：

-40°C，-45°C，-50°C，-55°C，-60°C，-65°C

兵哥跟进测试结果总结了一下，不同温度对应原始误码率如下：

图片与真相请继续往上拨屏幕：

-40°C 原始误码率：

-45°C原始误码率：

-50°C原始误码率：

-55°C原始误码率：

-60°原始误码率：

最后一个，-65°C原始误码率：

低温条件下，SLC则有不同表现：

继续向上拨屏幕或者眼珠往下转：

-40°C SLC原始误码率：

-45°C SLC原始误码率：

-50°C SLC原始误码率：

-55°C SLC原始误码率：

-60°C SLC原始误码率：

-65°C SLC原始误码率：

小结：

1、从测试结果看，低温对MLC的影响比较大，而对SLC影响非常小，MLC原始误码率随温度下降而增长。

2、可靠性方面，在低温环境下，SLC比MLC可靠很多，如果想大约在冬季收复膏药国，寒冷的北方战场，SLC会在低温环境下发挥超乎寻常的稳定作用。

3、使用MLC做SSD， 固件参数要进行调整，Timing的冗余要足够才能保证MLC在低温环境下正常无误的工作。

当然，这一切，只是表面……

其实，SLC在低温下也如在风中一样的凌乱：

-55°C 写操作时间分布：

-60°C 写操作时间分布：

-65°C 写操作时间分布：

而，正常情况下，最大、最小和平均分布是非常均匀、有规律的。

 

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