高分子薄膜表征技术

曾娴1) 杨朝晖1)2) 张晓华1)2)

1) (苏州大学, 软凝聚态物理及交叉研究中心, 苏州215006)

2) (苏州大学, 物理与光电\u0001 能源学部, 苏州215006)

关键词: 高分子薄膜, 纳米, 表征技术

DOI: 10.7498/aps.65.176801

物理学报,2016, 65(17): 176801              

       

        随着纳米技术在微电子、生物医药、能源等领域的快速发展, 如何在纳米尺度构筑性能稳定、性质均一的多功能纳米器件已成为纳米科技领域最具有挑战性的前沿技术之一. 具有广泛应用前景的高分子薄膜的制备、性质以及应用研究一直以来都受到学术界与工业界的高度关注对高分子薄膜的内部结构、表面形貌、机械性能、电化学性能等的检测一直是高分子领域的主要研究热点之一. 本文综述了高分子薄膜的测试方法, 包括原子力显微镜、电子显微镜、X 光散射、中子散射、椭圆偏振光等表征技术.

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