本篇博文最后修改时间:2017年01月06日,11:06。
一、简介
本文以SimpleBLEPeripheral工程为例,介绍SNV的使用。
二、实验平台
协议栈版本:BLE-CC254x-1.4.0
编译软件:IAR 8.20.2
硬件平台:Smart RF开发板(主芯片CC2541)
三、版权声明
博主:甜甜的大香瓜
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四、实验前提
1、在进行本文步骤前,请先阅读以下博文:
暂无
2、在进行本文步骤前,请先实现以下博文:
暂无
五、基础知识
1、SNV是什么?
答:
NV就是从内部flash划分出来的一块专用于存储数据的flash。
NV就是Non-Volatile (非易挥发),香瓜在文档中看到的都是NV,很长一段时间困惑为什么大家都叫它SNV。
详细阅读OSAL API.pdf(位于C:\Texas Instruments\BLE-CC254x-1.4.0\Documents\osal)后发现,该文档第10章讲解的是NV,第11章则讲述的是SNV(Simple Non-Volatile)。
2541的协议栈用的是SNV(8位ID),而不是NV(16位ID)。
由这个线索,将我心中的各种百度不到的SNV的疑问也都迎刃而解了。
注:详细了解SNV后才发现我低估它了,并不像多数SNV资料中写的那么简单,因此本篇增加了大篇幅来解析SNV是怎么一回事。
2、SNV有多大?
答:
1)在C:\Texas Instruments\BLE-CC254x-1.4.0\Projects\ble\common\cc2540\ti_51ew_cc2540b.xcl中有这么两段代码:
- // Setup of CODE banks
- // -------------------
- //
- -D_BANK0_START=0x00000 // Note: Unconventional bank numbering on this part:
- -D_BANK0_END=0x07FFF // "BANK0" is the root bank/common area!
- //
- -D_BANK1_START=0x18000
- -D_BANK1_END=0x1FFFF
- //
- -D_BANK2_START=0x28000
- -D_BANK2_END=0x2FFFF
- //
- -D_BANK3_START=0x38000
- -D_BANK3_END=0x3FFFF
- //
- -D_BANK4_START=0x48000
- -D_BANK4_END=0x4FFFF
- //
- -D_BANK5_START=0x58000
- -D_BANK5_END=0x5FFFF
- //
- -D_BANK6_START=0x68000
- -D_BANK6_END=0x6FFFF
- //
- -D_BANK7_START=0x78000
- // End of code space has to match that of OSAL NV page start.
- // Note that in this way, we'll be wasting last page spaced by NV pages,
- // but in order not to overwrite NV pages when downloading new image, the waste
- // is inevitable.
- // New OSAL NV driver will move the NV pages to the last pages not wasting
- // last page itself.
- -D_BANK7_END=(_BLENV_ADDRESS_SPACE_START-1)
上面这段代码说明256K的flash被分为8个BANK,每块BANK为32K。
在第8块BANK的末尾分出了一块flash,用于NV。
- // Internal flash used for NV address space.
- // ---------------------------
- //
- // Address range for HAL_FLASH_PAGE_SIZE == 2048
- -D_BLENV_ADDRESS_SPACE_START=0x7E800
- -D_BLENV_ADDRESS_SPACE_END=0x7F7FF
- //
- // Address range for HAL_FLASH_PAGE_SIZE == 4096
- //-D_BLENV_ADDRESS_SPACE_START=0x7D000
- //-D_BLENV_ADDRESS_SPACE_END=0x7EFFF
- //
- -Z(CODE)BLENV_ADDRESS_SPACE=_BLENV_ADDRESS_SPACE_START-_BLENV_ADDRESS_SPACE_END
上面这段代码说明NV的起始地址是0x7E800,终止地址是0x7F7FF,两个数值之间有4096个字节,也就是4K。(注释部分为8192字节,也就是8K)
这个NV大小我们可以根据需要来改变,当然NV的flash大了、放代码的flash就小了。
2)在TI的技术论坛看到这么一句话也印证了上述说法:
3、SNV的接口资料哪里有?
答:OSAL API.pdf(位于C:\Texas Instruments\BLE-CC254x-1.4.0\Documents\osal)
4、使用SNV有什么需要注意的?
答:
在OSAL API.pdf的文档中提到了几个注意点:
1)写SNV会耗时百毫秒级,尽可能在写的时候关闭中断。
2)尽可能地少写SNV,因为它耗时耗电。
3)如果SNV的存储结构改变,或者协议栈版本升级了,有必要重新擦除和初始化SNV内存数据,否则读写时会出错。
4)尽量不要把SNV的代码放到中断函数里。
香瓜也补充一个很重要的注意点:
IAR的debug仿真时默认是全片擦除,因此会擦除flash中的code、NV。
所以经常有群友来回仿真调试时发现自己写的掉电保存数据没了,不知所以然,问题就出在这里。
解决办法:
(具体我也不知道该怎么填,大家自行百度或实验吧)
5、SNV的哪些ID是可以用的?
答:
在bcomdef.h中已经定义了一些我们不能用的SNV的ID:
- /** @defgroup BLE_NV_IDS BLE Non-volatile IDs
- * @{
- */
- // Device NV Items - Range 0 - 0x1F
- #define BLE_NVID_IRK 0x02 //!< The Device's IRK
- #define BLE_NVID_CSRK 0x03 //!< The Device's CSRK
- #define BLE_NVID_SIGNCOUNTER 0x04 //!< The Device's Sign Counter
-
- // Bonding NV Items - Range 0x20 - 0x5F - This allows for 10 bondings
- #define BLE_NVID_GAP_BOND_START 0x20 //!< Start of the GAP Bond Manager's NV IDs
- #define BLE_NVID_GAP_BOND_END 0x5f //!< End of the GAP Bond Manager's NV IDs Range
-
- // GATT Configuration NV Items - Range 0x70 - 0x79 - This must match the number of Bonding entries
- #define BLE_NVID_GATT_CFG_START 0x70 //!< Start of the GATT Configuration NV IDs
- #define BLE_NVID_GATT_CFG_END 0x79 //!< End of the GATT Configuration NV IDs
- /** @} End BLE_NV_IDS */
实际上上面的ID所在的区域,本来就不是我们该使用的,我们适合用的ID是在0x80~0xFE:
注:这张表要看OSAL API.pdf的第十一章的SNV,别看错到第十章的NV。
六、实验步骤
1、添加头文件(simpleBLEPeripheral.c)
2、按键处理代码中添加测试代码(simpleBLEPeripheral.c)- static uint8 write_time = 0; //擦写次数
- #define SNV_TEST_ID 0x80
- static void simpleBLEPeripheral_HandleKeys( uint8 shift, uint8 keys )
- {
- VOID shift; // Intentionally unreferenced parameter
- uint8 data[252];
- uint8 ret;
-
- //UP 读SNV
- if ( keys & HAL_KEY_SW_1 )
- {
- ret = osal_snv_read(SNV_TEST_ID, sizeof(data), data);
-
- if(ret == NV_OPER_FAILED)
- {
- //未保存过,设置出厂数据
- //osal_memset(data, 0x55, sizeof(data)); //作为发送缓冲区,写0x55
-
- for(uint8 i = 0; i < 252; i++)
- {
- data[i] = i;
- }
-
-
- osal_snv_write(SNV_TEST_ID, sizeof(data), data);
-
- osal_memset(data, 0, sizeof(data)); //清空缓冲区后,作为接收缓冲区
- ret = osal_snv_read(SNV_TEST_ID, sizeof(data), data);
- }
- }
-
- //DOWN 写SNV
- if ( keys & HAL_KEY_SW_3 )
- {
- write_time++;
- osal_memset(data, write_time, sizeof(data));
- osal_snv_write(0x80, sizeof(data), data);
- }
- }
七、注意事项
暂无
八、实验结果1、当写入252字节到SNV、并读出252字节SNV时,读写正常。
2、当写入253字节到SNV、并读出253字节SNV时,读写异常。
实验结果如上,一次性写入最多252字节,当需要写大于252字节时则需要分包,依次写到不同ID中。
因此,实验成功。
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