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关于环振相噪问题的部分笔记 | Return To Innocence
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2014.10.13

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这里简单列一下关于环振相噪问题的一些笔记
Razavi 关于环振相位噪声的分析
Razavi 在96年的 JSSC 发表的论文 “ A Study of Phase Noise in CMOS Oscillators ” 提出了针对环振相位噪声的分析方法。其基本方法是通过对环振的(小振幅)线性假设,将类似于 Lesson 模型分析 LC 振荡器的方法,应用于环振的分析中。
其中主要的差别在于其对开环品质因子 ( Open-loop Q ) 的定义:
从而可以得到输出对噪声的一般的传输函数:
具体到下面的线性化的环振模型
论文中也提到的的环振中的不同噪声的处理:线性模型中的加性噪声,高频乘性噪声,低频乘性噪声等
关于尾电流源噪声的考虑(下面左图),主要是其引起的 FM 作用
对于电源、衬底噪声,主要考虑 device mismatch 和差分对共源节点的电容,将电源和衬底噪声转为电流,调制差分级的延时
Hajimiri 关于环振相位噪声的分析
在99年 JSSC 的论文 “ Jitter and Phase Noise in Ring Oscillators ”, Hajimiri 介绍了通过引入 ISF ( impulse sensitivity function ) 分析相噪的方法。
基本的思路是求解系统的冲击响应,(以噪声电流的扰动为输入),并将系统的时变特性归结于 ISF 函数当中。
ISF 作为周期函数,表征在某一相位时刻注入的脉冲对振荡器扰动的敏感性
这里的 ISF 主要是通过仿真方法来获得,关于 ISF 函数的一些近似方法,可以参考 Hajimiri 稍早的论文 “ A General Theory of Phase Noise in Electrical Oscillators ” 中附录部分的介绍,其中比较简单的一种是利用振荡波形的斜率的来做近似:
应用 ISF 的方法,一个重要的作用是引入了振荡器的对称性问题。论文中得到振荡器相噪中 flicker noise 和 thermal noise 的转折频率为:
因而通过使振荡波形对称的设计 ( Rising / falling edge 的对称性 ), 可以使ISF的dc值接近零,从而整个减弱 flicker noise 的影响。当然,也可以考虑通过更多级数来减小 Γrms
在考虑对称性之后(忽略 flicker noise ),具体的环振相噪
单端环振:
差分环振:
上面可以看到单端和差分结构下(给定功耗和振荡频率),级数N对相噪影响有所差别,具体的的理解可以考虑:对差分结构,功耗决定了总的尾电流的大小,级数增加,则每级的尾电流减小, delay-cell 的转换速率降低,从而使相噪特性变差;对单端结构,转换速率不会受到级数的影响
对于衬底和电源噪声问题,主要是考虑噪声的相关性,如可以使得所有此类噪声引入点的作用相同,则只有在 dc 和振荡频率偶数倍处的噪声作用
具体设计中考虑对称问题:对单端结构(如 inverter ):存在优化的 Wp/Wn, 但并不一定在相同跨导处;对差分结构,实际是考虑半边电路的 symmetry ( 如 Maneatis load )
Liang Dai 关于相噪问题的分析
结合之前的分析方法,Liang Dai 在 02年的 IEEE Transactions on Circuits and Systems 上的论文 ” Design of Low-Phase-Noise CMOS Ring Oscillators ” 中,对环振的相位噪声做了进一步的分析
基本的方法是将 Razavi 的线性模型与 Hajimiri 的 ISF 函数结合起来,再将得到的线性模型扩展(引入上面的 limiter, 并通过 ISF加以处理),得到新的相噪的表示(对实际的 soft clipping ):
论文中得到的一个结论:为减小相噪,设计应该实现 “ fast rail-to-rail switching ”
另外,对差分结构低频噪声(尾电流源噪声)的上变频问题
论文中给出了尾电流源(和其偏置)的 flicker noise 对相噪的影响:
2
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JSSC 2014-10 笔记
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