开关电源的设计验证

设计验证:(可分为三部分)

a. 设计阶段验证

b. 样品制作验证

c. QE验证

设计阶段验证

设计实验阶段应该养成记录的习惯，记录可以验证实验结果是否与电气规格相符，以下即就此电源设计阶段验证做说明(验证项目视规格而定)。

●电气规格验证:

3843 PIN3脚电压(full load 4A) :

●Duty Cycle , fT:

●Vin(min) = 100V (90V / 47Hz full load)

●Stress (264V / 63Hz full load) :

Q1 MOSFET:

D5:

D4:

●辅助电源(开机，满载)、短路Pin max.:

●Static (full load)

●Full Range负载(0.3A-4A)(验证是否有振荡现象)

●回授失效(输出轻载)

●O.C.P.(过电流保护)

●Pin(max.)

●Dynamic test

●HI-POT test:

此电源属于输入3 PIN HI-POT test 为1500Vac/1 minute。

●Grounding test:

输入为3 Pin(有FG者)，一般均要测接地阻(Grounding test)，安规规定FG到输出线材(输出端)的接地电阻不能超过100mΩ(25A/3 Second)。

●温升记录

设计实验定案后(暂定)，需针对整体温升及EMI做评估，若温升或EMI无法符合规格，则需重新实验。温升记录请参考附件，D5原来使用BYV118(10A/40V Schottky)，因温升较高改为PBYR1540CTX(15A/40V)。

●EMI测试:

●机构尺寸:

设计阶段即应对机构尺寸验证，验证的项目包括 : PCB尺寸、零件限高、零件禁置区、螺丝孔位置及孔径、外壳孔寸….，若设计阶段无法验证，则必须在样品阶段验证。

样品验证阶段:

样品制作完成后，除温升记录、EMI测试外(是否需重新验证，视情况而定)，每一台样品都应经过验证(包括电气及机构尺寸)，此阶段的电气验证可以以ATE(Chroma)测试来完成，ATE测试必须与电气规格相符。

QE验证:

QE针对工程部所提供的样品做验证，工程部应提供以下交件及样品供QE验证。