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上颌第一磨牙远颊双根管1例

作者:孙凯瑞,黄云生,周鹏,魏昕,南京医科大学附属口腔医院牙体牙髓科

上颌第一磨牙根管系统复杂多变,临床中上颌第一磨牙近颊双根管发生率达90%以上,而远颊双根管发生率十分低。我科发现1例上颌第一磨牙远颊双根管病例,现报告如下,同时,结合国内外文献总结第一磨牙根管系统特征、遗漏根管发生特点,以及针对如何提高根管查全率作出讨论。

1.病例报告

1.1基本情况

患者女,16岁,汉族。2018年4月因左上后牙冷热刺激疼痛伴阵发性自发痛、夜间痛2周到江苏省口腔医院就诊。检查:左上颌第一磨牙近中邻牙合面及腭侧大面积龋坏,可探及穿髓点,疼痛明显,冷诊敏感,叩痛(±),无松动,牙龈无红肿,同侧余牙及对颌牙无异常,无咬合干扰。X线片示:左上第一磨牙龋坏达髓腔,根尖无明显异常(图1)。诊断:左上第一磨牙慢性牙髓炎。治疗计划:左上第一磨牙行根管治疗+成年后冠修复。

 

图1 术前X线片

1.2治疗过程

4%阿替卡因行左侧上牙槽后神经麻醉,去除腐质,隔湿干燥,制作近中邻面及腭侧假壁,置橡皮障隔湿,开髓,揭顶,1%次氯酸钠冲洗消毒髓腔,探及近颊、远颊及腭根三根管,显微镜下常规寻找MB2,DG-16探针于MB1腭侧偏近中约2mm处探及一根管口即MB2。因远颊根管口位置偏颊侧,其与腭根根管口相距较远,怀疑远颊第二根管存在,故DG-16探针沿髓室底远颊根管口至腭根根管口间的窄沟仔细探寻,发现DB1腭侧偏远中约1.5mm处存在DB2。

结合术前根尖X线片预估根管长度,手用不锈钢K锉疏通根管至15#,ENDOFLARE根管开口锉(Micro-Mega,法国)对5根管口进行敞开,去除牙本质三角,建立直线通路,根尖定位仪(DentaportZX,日本)测量工作长度如下:lMB1=19mm,lMB2=18mm,lDB1=20mm,lDB2=18mm,lP=21mm。EDTA凝胶(Glyde,美国)润滑根管,HeroShaper机用镍钛锉(Micro-Mega,法国)冠向下技术进行根管预备,其中MB2预备至25#04锥度,P预备至30#06锥度,其余均预备至30#04锥度。

术中每次换锉均用1%次氯酸钠大量冲洗。超声荡洗,干燥,诊间封氢氧化钙。一周后复诊患牙疼痛症状消失,暂封物完好,叩痛(-),牙龈无红肿。橡皮障隔湿后去除暂封物及根管内封药,术中试尖片显示远中两根管重叠(图2A)。超声荡洗,纸尖干燥,AHplus糊剂+热牙胶垂直加压充填(SybroEndo,德国),术后片显示根管恰填,平行投照显示远中两根管重叠(图2B),偏侧位可辨别出DB1、DB2(图2C)。治疗过程髓室底显微镜下图像见图2D~F。术后3个月复查无不适。

 

图2 治疗过程影像及显微镜下图片。A:术中试尖片;B:术后平行投照X线片;C:术后偏位投照X线片;D:根管预备髓底像;E:试尖;F:根管充填髓底像

2.讨论

上颌第一磨牙根管系统较为复杂,牙根数目从2根到3根不等,根管数目为2~6根不等,有文献报道根管数目多达8根。其中MB2发生率可达90%以上,平均发生率约为73.8%。而大多数上颌第一磨牙远中颊根仅存在单根管,其发生率约为90.5%~100%,按照Vertucci根管分型标准,2-1型在远颊多根管中最为常见,可达96.2%~100%,而独立双根管即2-2型的发生率仅为1.6%~3.8%。根管数目不同,DB2的发生率也明显不同。

Kim通过对814颗上颌第一磨牙进行CBCT研究发现,根管数目为5根中DB2的发生率为1.23%;郝新宇等研究753颗上颌第一磨牙CBCT影像资料发现,四根管中DB2发生率仅为0.53%。在国内病例报告中,具有完整病例图片的上颌第一磨牙远中双根管报道较少,且根管数目多为5根,均存在MB2。根管治疗作为治疗牙髓根尖周病公认的最有效办法,通过彻底清除根管内微生物及坏死物质,有效消毒和严密充填根管,从而促进病变愈合。

根管充填质量不佳包括欠充和超充、根管遗漏、充填后冠方渗漏等,往往会造成根管系统和根尖周组织内持续的微生物感染,从而导致根管治疗失败。Iqbal研究了90例根管治疗失败并且行根管再治疗的病例发现,未充填和遗漏的根管发生率达17.7%;Song等通过分析493例行显微根尖手术的再治疗牙齿发现,造成根管治疗失败的最常见原因是充填后根管发生微渗漏(约为30.4%),其次就是根管遗漏,发生率为19.7%;Karabucak等选取了1137颗根管治疗后牙齿(包括前磨牙和磨牙)CBCT图像资料进行研究,发现遗漏根管的发生率为23.04%,而在这些遗漏根管的牙齿中,存在根尖周病变的达82.8%,并且所有病变均发生在遗漏根管所在牙根周围。以上研究尽管研究手段不同,研究结果存在一定的差异,仍不难看出,根管遗漏是根管治疗失败的主要原因之一。

遗漏的根管内常常含有大量未清除的感染物质,持续对根管系统及根尖周组织造成刺激,导致牙髓疾病预后不佳。遗漏根管产生的原因有很多,包括根管解剖变异、髓室底暴露不充分以及根管口钙化阻塞等。上颌第一磨牙通常因为根管系统复杂多变容易遗漏根管。研究及临床实践表明,上颌磨牙最容易遗漏近颊第二根管,这可能和MB2发生率高但根管细小不容易发现有关。研究者们通过大量的观察和实验,致力于总结归纳MB2存在的规律,这也使得临床医生在进行根管治疗时,往往会有意识地寻找MB2。而远颊双根管发生率十分低,相关研究也十分少,临床操作中在未考虑到其可能存在时,容易忽略。

通常情况下,根管治疗术前根尖X线片可提供一定参考,尽管可以通过改变投照角度去区分,但因分辨率低以及周围组织结构在二维影像上显示的重叠干扰,往往难以精确判断根管数目及形态。20世纪90年代初,锥体束CT(cone-beam computed tomography,CBCT)问世。

与传统医用螺旋CT原理不同,CBCT采用锥束状放射源,通过平板状探测器接收射线,并由计算机将获取的数据进行重组从而获得三维影像,不仅可以提高射线利用率,大大减少辐射剂量,更是具有较高的空间分辨率,成像质量高。其作为牙髓疾病辅助检查手段,逐渐应用于根尖周疾病、牙外伤的诊断,根管治疗术前评估以及预后的判断等。因为能够通过冠状、矢状、水平不同层面以及各个角度去显示影像,因此可以有效减少周围组织结构对牙齿形态的影响,在根管数目、形态以及走向的确定上有着极大的优势,这给临床复杂根管治疗提供了便利。

Mirmohammadi等通过体外研究发现,CBCT检测上颌磨牙MB2的准确性可高达98%。值得注意的是,CBCT尽管比传统医学CT的放射剂量大大减少,但仍然高于根尖片和口腔曲面断层片,不能作为牙髓治疗的常规诊断工具,需要通过慎重评估之后使用。

20世纪90年代,手术显微镜开始引进并逐渐应用于牙髓治疗,其具备良好的照明系统和放大功能,并能通过不同的放大倍数调节,辅助灯光强弱的改变,让视野局限、空间狭小的口内操作可视化,使得越来越多疑难复杂病例如钙化根管及台阶的疏通、分离器械的取出、髓底及侧壁穿孔修补、根尖手术等都能够顺利完成。

在根管探查时,手术显微镜辅以显微口镜和根管探查器械使用,使得根管口定位更为精准和便捷,额外根管检出率也大大提高。通常辅助超声器械选择性地去除一定的牙本质,可以有效定位隐蔽根管口。口腔显微镜的应用是牙髓病学领域一次革命性的突破,在条件允许的情况下,经过严格的培训,可以作为复杂根管治疗常规辅助手段。

本文报道了1例上颌第一磨牙远中双根管的病例,提示我们临床根管治疗过程中,在考虑到上颌第一磨牙复杂时,不仅要注意MB2的寻找,同时也要注意其他根管是否存在异常。对于开髓后髓室底根管口分布异常的磨牙,要提高警惕是否存在额外根管,适当改变开髓洞形,充分暴露髓室底,术中配合显微镜和根管探查器械的使用,必要时拍摄CBCT进行辅助检查,可以减少遗漏根管发生。这也告诉我们在理论知识充分掌握的基础上,结合临床经验的同时,还必须要借助先进的器械和技术,这样不仅可以简化操作程序,提高术者效率,而且能够保证治疗质量,改善疾病预后。

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