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2018.07.12
来源:材料人。
AFM,原子力显微镜,能够在纳米级下观察样品表面形貌,里面的扫描器扫描物体表面,定位检测器记录样品表面高度的变化,通过反馈回路会得到准确的表面形貌图,反过来,也会保护尖端免受损伤。
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