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晶体管输出光耦测试方案
1、确定被测光耦类型
晶体管输出光耦主要测试CTR,他的内部原理图如下图所示,因此我们需要给他输入端一个电流,再测输出端的电流(需要在输出端加一个电压)
2、测试线连接
在测试线连接之前,我们要知道他的测试原理图,晶体管输出光耦测试原理图如下:
电流源 电压源 万用表
实际连线:
为了方便说明,前面有对各个接口进行标明:
信号发生器 一、二、三、四、五
测试座 1、2、3、4、5、6、7、8
万用表 红笔、黑笔
上述连线说明:
二 连 1
一 连 2
六 连 红笔
黑笔 连 7
四 连 6
3.参数设定
信号发生器:左通道 10mA,右通道 5V
万用表:直流200mA 档位
4.进行测试
放入材料,反向放置,小圆孔朝上
5.判定标准
以厂商的CTR为标准进行判定,进行简单换算就可以知道,万用表上显示是多少mA时材料是OK的,下面是4NXX系列的CTR表,因为CTR=IC(万用表上的电流)/IF*100%,所以IC=CTR*IF。
IC 最小值,大于此值为OK
10mA
5mA
3mA
2mA
1mA
实例
下面是4N37的实际测量图。从下图我们可以看出,在输入电流IF=10mA的情况下,输出电流IC=15.33mA > 10mA,所以判定为OK,如果有兴趣可以算下它的:CTR=IC/IF*100%=15.33/10*100%= 153.3 %
达林顿输出光耦测试方法
可控硅输出光耦测试方法
10M高速光耦测试方法
1M高速光耦测试&高速达灵顿系列测试方法
施密特触发器输出光耦测试方法
IGBT驱动光耦测试方法
——潮光光耦网整理编辑——
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