在程序升温时，导致出现不规则基线的原因有哪些？

组成复杂的样品，常需要用程序升温来分离。因为在恒温条件下，如果柱温较低，则低沸点组分分离较好，而高沸点组分保留时间会很长，且容易造成峰展宽，甚至滞留在色谱柱中造成柱残留污染；反之，当柱温太高时，低沸点组分又难以分离。程序升温既能保证各待测组分的良好分离，又能缩短分析时间。但是，在程序升温时，有时会出现不规则的基线，如何解决呢？

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程序升温分析时，造成基线不规则，与气路、检测器、进样口有一定关系，具体有如下原因：

①载气泄漏；

②载气压力不足；

③载气有杂质或气路污染；

④载气流速不在仪器最大/最小限定范围之内（包括FID用氢气和空气）；

⑤色谱柱流失或污染；

⑥进样口隔垫流失；

⑦进样针污染；

⑧检测器污染。

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程序升温分析，若出现不规则基线。

首先，检查载气压力是否达到规定压力；

其次，检查系统是否漏气，其中进样口隔垫漏气较易常见，高温下频繁进样时，要注意及时更换；

第三，检查进样口是否污染，清洗进样口，更换进样衬管；

第四，测量气体流速是否在仪器最大/最小限定范围内，对于程序升温来说，必须检查温度处于始、终两点时，载气流量是否有较大变化，如果在始、终两点间流量之差超过2mL/s（当填充柱内径为4mm时），即认为稳流特性不好，这时需进一步检查系统是否漏气，稳流阀、稳压阀工作压力是否合乎要求；

第五，如果气密性及载气流速均无异常，应考虑是否色谱柱造成，对色谱柱进行检查。首先查看色谱峰峰形，如拖尾则应减少进样量或稀释样品浓度，以免色谱柱过载；如减少进样量后峰形仍拖尾，则可能是色谱柱前端过脏或柱流失严重造成保留性能降低，可将色谱柱前端截掉1-2圈，重新安装进行测定，若仍有拖尾现象，可尝试重新老化色谱柱，若问题仍然存在，则说明该色谱柱已损坏，须更换新色谱柱。

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案例分析

①基线不规则

用脉冲式火焰光度检测器（PFPD），采取程序升温分析，待仪器稳定后，连续进样标准溶液，两三个小时后，基线噪声开始变大，上下波动，并且基线不规则，见图1。

首先观察氮气压力表，压力正常；实验中途没有更换过氮气、空气和氢气，说明气体纯度不是原因；色谱峰不拖尾，说明色谱柱无污染；检查进样口，进样垫完整，O型圈完整，进样口不存在泄漏点；检查衬管，发现壁上有脏东西，更换衬管，再进行测定，基线平稳，不再波动，见图2。

②基线随温度升高而升高...