IGBT双脉冲测试方法详解(3)

通过开通过程观察并联的动态均流水平：
下图是在3个IGBT并联的情况下测试的开通波形，M1、M2和M3通道分别为3个IGBT的Ic。用此方法可以很准确的测试出动态均流的情况。从而进行动态均流调试。

利用开通过程测量主电路杂散电感：
在IGBT第二次开通时，Ic开始增长，而此时上管IGBT的续流二极管处于反向恢复，该二极管没有阻断能力，因此上管Vce=0。
在Ic开始增长时，杂散电感上感应的电压的方向如右上图所示，与母线电压相反，所以此时在下管的Vce上测得的波形出现了一个缺口，如右下图波形中的虚线所示。这个缺口电压产生的原因是杂散电感抵消了一部分母线电压。也就是说，缺口的电压是杂散电感上的感应电压。

从示波器上读出Us，再读出di/dt，代进上式，就能算出杂散电感Ls的数值。这个模型是比较准确的，因此得出的数据比较可靠。

双脉冲实验的关注点----  关断过程：
关断过程的关注点为Vce的电压尖峰，它是直流母线杂散电感与di/dt的乘积，通过观察这个尖峰，可以评估IGBT在关断时的安全程度。

Vce尖峰一般都客观存在，在短路或者过载时，这个尖峰会达到最高值，比正常工作时要高得多，通常可以使用有源钳位电路(Active Clamping)   进行抑制。
对关断过程中电压尖峰的认识：
下表说明不同IGBT在关断额定电流时的di/dt的水平(    从datasheet 中计算出）：

在IGBT  短路时，关断短路电流的di/dt会更高，比关断额定电流要高很多，因此短路时电压尖峰更高。所以有可能出现，驱动器发现了IGBT的短路现象，并且也及时关断，但是由于di/dt太高，产生了非常高的电压尖峰，在关断该短路电流后仍然可以打坏了IGBT。我们举例：
假设母排杂散电感为100nH，则在7000A/us的电流变化率下，电压尖峰将高达700V。
这时，有源钳位电路就非常必要。通常在大功率的IGBT  的应用中，有源钳位的功能是非常必要的。其原因是随着系统的功率变大，IGBT的di/dt会增大，且杂散电感也会越大，因此电压尖峰会越高。
双脉冲实验举例——硬件准备工作：

双脉冲实验举例——计算：
在这个实验中，涉及4个物理量：

1.母线电压(V)
2.IGBT  电流(I)
3.电感量(L)
4.脉冲宽度（t）

它们之间的关系用下面的式子建立起来：

我们以1000A/1700V为被测对象，做一次计算：

a. V取IGBT    的额定母线电压：1100V；
b. I取此IGBT     的安全工作区的边缘：2000A；
c. L取实验室条件下简单绕制的空心电感：28uH。

将以上数据带入上式，得  t=51us。
要使电流在第二个脉冲关断时到达2000A，则2个脉冲的宽度之和为：T1+T3=51us。