不同类型黑片缺陷失效分析

摘要：主要针对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的４种不同类型的缺陷黑片，通过红外线（IR）、电致发光（EL）、反向偏压致发光（ReBEL）和能谱仪（EDX）等手段进行研究、分析，找出这些黑片缺陷产生的根本原因。

老实验，新启发~

无锡尚德太阳能电力有限公司

来源：《太阳能》