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2018.04.04
摘要:主要针对晶体硅太阳电池在生产过程、实验室测试和实际运行的不同阶段所观察到的4种不同类型的缺陷黑片,通过红外线(IR)、电致发光(EL)、反向偏压致发光(ReBEL)和能谱仪(EDX)等手段进行研究、分析,找出这些黑片缺陷产生的根本原因。
老实验,新启发~
无锡尚德太阳能电力有限公司
来源:《太阳能》
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