研究表明新的成像方法有望用于精确的脑癌诊断

　　与传统的脑成像技术不同，近红外( NIR )荧光成像具有无危险、反馈快、灵敏度高等优点。

　　由中国科学院深圳高级技术研究所郑海荣教授率领的研究小组与新加坡大学刘斌教授合作，报道了第一个用于双荧光和光声成像的具有聚集诱导发射( AIE )特性的NIR - II荧光分子。他们的研究结果发表在不先进的材料上。

　　与第一个NIR窗口( NIR - I )相比，第二个NIR窗口( NIR - II )中的荧光成像由于进一步减少了生物组织中的光子散射、吸收和组织自体荧光而具有更深穿透和更高时空分辨率的显著优点。

　　科学家们设计了一种新的供体-受体( D - A )定制的NIR - II发射型AIE分子，由于所设计分子的内在聚集诱导发射性质，配制的点显示出高达6.2 %的NIR - II荧光量子产率。

　　AIE点已成功地用于双近红外- II荧光和近红外- I光声成像，用于精确的无创脑肿瘤诊断。基于相同的点，实验表明NIR - II荧光成像显示出高分辨率。

　　与此同时，NIR - I PA成像固有地显示出比NIR - II荧光成像更高的穿透深度，这允许清晰地描绘脑中的肿瘤深度。