浅论高温超导薄膜微波表面电阻的测试.pdf

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电子科技大学 硕士学位论文

高温超导薄膜微波表面电阻的测试 姓名：张映敏 申请学位级别：硕士 专业：物理电子学 指导教师：罗正祥 2001.3.1 65815

学科专业：物理电子学 高温超导薄膜微波表面电阻的测试 硕士生：张映敏 导师：罗正祥教授 关键词：HTS，微波表面电阻，介质谐振器，品质因数 【摘要】 条论文是国家超导中心下达的研究课题。自从1986年发现高温超导电性以

来，击温超导材料的应用和研究已在微波技术领域展开了i诸高温超导薄膜的

广泛应用和制备技术的提高，迫切需要对高温超导薄膜的微波特性参数足进行

研究。 本文详细介绍了一种采用低损耗高介电常数的兰宝石构成工作在皿。¨+。谐 ／

及Qo的值间接地求出R，这种方法能够对t-ITS薄膜的微波表面电阻R进行高

灵敏度、非损伤的测量J ， 本文制作了一个工作在12GHz附近的兰宝石介质谐振器测试系统，利用它

对HTS薄膜的邀遮蹇面电阻进行测试，测试灵敏度高，提高了整食型堡丕缠的

品质因素。I：可成功地用于单片矽30～50．8mm较大超导薄膜的R的测试，整个测

试系统体积小，操作方便，且所需实验条件简单。、r 、 AB STRACT In a this thesurfaceresistanceof HTS paper single of thinfilmis R piece

measured resonator by non—destructivity,at using sapphire 77K．By a矩0Ⅲmode thevalueofthe resonator’S microwavesurface factor,the

measuring quality

resistanceoftested carlbedeterminedAnew methodis R sample measuring resistanceca