DFT的外企笔试题

2010年06月01日 星期二 16:00

1.题目：如图为一组合逻辑电路芯片，由于某种技术问题，这个芯片在图上红圈ERR处产生了"stuck at 0"或"stuck at 1"的bug，请设计2个   test vectors 以便找出这两个bug。图在下面：

对1:要做出错误点的状态测试,必须把其他相关的引脚设置为固定的状态,并对错误点不影响,
(1) out=0 时,可测试到错误点,所以F=0,E=1,D=0;
(2) A或B,必须有一个为0,因B与错误点相关(不能是固定值),所以A=0;
(3) B和C是错误点的直接测试pin,只需设定他们的值,b=0,c=1可以测试出是stuck at 1,b=1,c=0(或其他值)可测出stuck at 0