探针测试Probe：旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。

适用于：Wafer，IC测试，IC设计等

检测内容包含：

1.微小连接点信号引出  

2.失效分析失效确认

3.FIB电路修改后电学特性确认

4.晶圆可靠性验证