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前烘是光刻工艺的基本步骤之一,也被称为软烘。即在一定的温度下,使光刻胶膜里面的溶剂缓慢地、充分地逸出来,使光刻胶膜干燥[1]。
光刻胶被涂到硅片表面后必须要经过软烘,软烘的目的是去除光刻胶中的溶剂。软烘提高了粘附性,提升了硅片上光刻胶的均匀性,在刻蚀中能得更好的线宽控制[1]。
典型的软烘条件是在热板上90oC到100oC烘30秒,接下来是在冷板上的降温步骤,以得到光刻胶一致特性的硅片温度控制[1]。
前烘可在热板或在烘箱中进行,每一种胶都有其特定的前烘温度和时间[2]。
软烘的温度和时间视光刻胶和工艺条件而定[1]。
光刻工艺的八个基本步骤
为方便起见,可将光刻的图形形成过程分为8个步骤,即气象成底膜,旋转涂胶,软烘,对准和曝光,曝光后烘焙,显影,坚膜烘焙,显影检查[1]。
光刻胶软烘的原因
光刻胶软烘的原因有:1.将硅片上覆盖的光刻胶溶剂去除;2.增强光刻胶的粘附性以便在显影时光刻胶可以更好地粘附;3.缓和在旋转过程中光刻胶胶膜内产生的应力;4.防止光刻胶沾到设备上(保持器械洁净)[1]。
如果光刻胶胶膜在涂胶后没有软烘而直接进行对准和曝光,将可能出现下列问题:1.光刻胶薄膜发黏并易受颗粒沾污;2.光刻胶薄膜来自于旋转涂胶的内在应力将导致粘附性问题;3.由于溶剂含量过高导致在显影时由于溶解差异,而很难区分曝光和未曝光的光刻胶。4.光刻胶散发的气体(由于曝光时的热量)可能沾污光学系统的透镜[1]。
软烘设备
常被提及的光刻胶软烘方法是硅片在真空热板上热传导(图1),用这种方法,热量可以很快通过与硅片背面接触从热板传递到光刻胶。光刻胶由硅片和光刻胶的接触面向外加热,这可使残留溶剂最小,因为循环时间短(例如30到60秒),这种单片热板方法适合于多片在自动硅片轨道系统流水作业。在硅片轨道处理流片时,紧随加热步骤之后,通常有一在冷却板上的冷却步骤。这一步骤快速冷却硅片以便下一步操作[1]。
图1 软烘
参考文献:
[1] MichaelQurik, Julian Serda(著),韩郑生等(译),半导体制造技术,电子工业出版社,2015.06,333-334
[2] 崔铮,微纳米加工技术及其应用,高等教育出版社,2013.4,25-25
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