Obrich

IR-Obirch的全名为InfraRed Optical Beam Induced Resistance Change，顾名思义为雷射光束引生的电阻变化异常检验，其原理是利用波长为1340nm的雷射扫描IC，造成扫描点被局部加温的作用，在给予一个直流定电压的情况下，任何材质或操作的元件皆会因温度变化而产生阻值变化，因此电流也产生变化，Obirch便可借着侦测电流变化定出IC可能的故障位置，即阻值变化较大者，如再附加lock-in的功能，更可有效降低杂讯，使讯号更为突显。此项技术可从晶片正面与背面施作，能缩短找出阻值异常问题的时间，并且经由更换高电流的针座，可进一步分析高电流及电压的元件。