显示屏新技术兴起，性能测试首选大电流弹片微针模组

随着物联网、云计算、大数据等新技术的兴起，人类社会已进入万物互联时代，显示屏既是信息交互端口的核心部件，也是人机交互的主要界面，它的重要性不言而喻。对于显示屏的性能测试，大电流弹片微针模组起着重要作用。

  智能手机市场近年来走向成熟，竞争日益激烈，屏幕成为竞争的焦点，差异化发展是各家手机企业竞相追逐的重点。AMOLED领域，京东方为华为供应了全球首款折叠屏5G手机Mate X的柔性面板。折叠屏作为产业发展的下一个热点，将手机与平板电脑合二为一，不仅极大提升了智能终端的使用范围，同时也将成为引领产业转型的方向。

（华为Mate X折叠屏手机）

在新型显示市场，手机OLED屏幕显示技术是新的发展方向。显示屏的市场规模持续扩大，出厂前的品质把控是至关重要的一步。针对显示屏的性能、清晰度、流畅度等进行测试时，选择适配的测试模组不仅能够保证测试的稳定性，还能为企业提高测试效率。凯智通研发的大电流弹片微针模组blade pin性能和性价比双高，在显示屏测试中占有较大优势。

（大电流弹片微针模组与pogo pin探针模组）

与传统的pogo pin探针相比，大电流弹片微针模组具有以下特点：

1.大电流弹片微针模组是一体成型的弹片结构，体型轻薄，头型多种选择，可定制化；pogo pin探针模组则是多组件结构，由针头、针管、针尾构成，制作工艺复杂，表面覆盖的镀金厚度很难控制。

2.大电流弹片微针模组可通大电流的传输，测试时额定电流最高可以达到50A!在1-50A的范围内电流传输都很稳定；pogo pin探针模组的额定电流仅为1A，无法通过大电流测试，稳定性较差，还很容易出现断针、卡pin的现象。

3.大电流弹片微针模组在小pitch领域中的测试中提供了很好地解决方法，应对的pitch值最小能达到0.15mm，在0.15mm-0.4mm之间，性能都很稳定；pogo pin探针模组能够应对的pitch值只在0.3mm-0.4mm之间，在更小pitch领域测试中pogo pin探针模组的寿命和稳定性都较差或是直接无法使用。

4.大电流弹片微针模组的使用寿命高达20w次以上，能够较好地应对高频率测试，无需频繁更换，测试效率高；pogo pin探针模组的使用寿命只有5w次左右，更换频繁，测试效率低，还会影响测试进度。

通过外形结构、电流传输、小pitch领域测试以及使用寿命这几个方面的对比可以看出，为什么pogo pin探针模组已经不再是企业和厂商的最佳选择，而大电流弹片微针模组却能够脱颖而出。原因正如显示屏市场的发展一样，新的技术会逐步取代旧的，只有真正有实力的产品才能在市场上占据一席之地。