关于电源的测试,我们已经写了如下三部分内容,主要把电源测试的输出特性(稳压精度、纹波噪声、输出电压上升/下降过冲、上下电测试、多电源系统上下电压时序控制、动态负载特性、负载调整率、电压调整率又称线性调整率、最大容性负载调整率、效率测试)加粗部分讲完了。详情可点击查看:
今天我们讲解多电源系统上下电压时序控制。
在系统设计中经常需要考虑FPGA、微控制器和一些需要多个电压轨供电的器件上下电的时序问题。这些设计通常要求在数字I/O轨上电前对内核和模拟模块上电,但有些设计可能需要其他上下电控制时序。在任何情况下,正确的上电和断电排序都可以防止闩锁造成的直接损坏和ESD造成的长期损坏。此外,电源时序控制也可以错开上电期间的浪涌电流。因此有效控制复杂系统的上下电时序显得具有重要意义。
本章多电源系统上下电压时序控制主要以实例讲解,列举2个实例让大家对上下电时序有概念。如下图1,2是常见系统上下电时序示意图。
图1 某系统上电时序
图2 某系统下电时序
案例1
以FPGA为例,供电轨的应用包括内核电源(VCC_INT)、I/O电源(VCCO)、辅助电源(VCC_AUX)和系统存储器电源。
联系客服