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一种基于MCU芯片的FPGA原型验证平台设计
ChinaAET
>《待分类》
2022.10.24 北京
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作者:
张文文,唐映强
作者单位:
无锡中微爱芯电子有限公司,江苏 无锡214072
。
摘要:
为了缩短MCU芯片开发周期,提出了一种基于MCU芯片FPGA原型验证平台设计。该设计是将传统FPGA原型验证过程中使用FPGA的RAM原型替换程序存储单元,改为使用FPGA双端口RAM替换。其中一个端口控制按照传统的接入方法,另一端口控制信号接到专门的控制逻辑上,独立控制,而且不影响原MCU芯片功能。该方法不仅节省多次FPGA综合实现的时间,而且可以灵活实时监测RAM,方便查错。同时该方法具有通用性,可移植到类似的SoC系统架构FPGA原型验证系统中去。
引言:
随着对各种功能微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)芯片的市场需求增加,怎么缩短
MCU芯片
开发周期成为抢占市场一个关键难点。MCU芯片验证在研发中所占的比例越来越重,占据了整个研发周期的70%以上,缩短验证周期就是直接有效的办法
[1-3]
。通常进行前仿真验证功能,后仿真验证时序性能,而仿真速度太慢,在遇到问题改设计后,如果只选择验证修改部分的功能,验证覆盖率达不到会减小流片的成功率。
用现场可编程逻辑门阵列(Programmable Gate Array,FPGA)验证功能可以比软件仿真速度高出4~6个数量级
[4]
,填补了仿真环境与实际芯片的巨大差距。对于仿真时间限制不能遍历的情况,
FPGA原型
验证都可以轻松完成。同时,FPGA可以给软件设计人员提供硬件
验证平台
,软件和芯片同时开发可以加快产品的面市时间。
综上可见FPGA原型验证平台
[5-7]
的构建在整个开发过程的重要性。如何快速构建FPGA原型验证平台,使其能担此重任,正是本设计的初衷。
文章来源:《电子技术应用》杂志9月刊
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