“Unexpressed emotions will never die. They are buried alive and will come forth later in uglier ways”——Sigmund Fredud
在芯片设计与制造的过程中，确保芯片的质量和可靠性是至关重要的。边界扫描（Boundary Scan） 技术作为一种强大的芯片测试和验证工具，广泛应用于现代芯片设计中。本篇文章将介绍边界扫描技术的基本原理、构成要素以及在芯片测试和硬件调试中的应用。下文简称BSCAN
本篇文章主要分为两个部分：
一：Boundary Scan的基本概念及应用
二：Boundary Scan的硬件实现
首先我们都知道BSCAN是一种用于测试和验证集成电路的技术。在集成电路中，有许多引脚（pins） 用于与其他器件进行通信和连接。BSCAN 通过在芯片引脚之间添加可控的扫描链（Scan Chain） ，使得我们能够在测试和调试时以串行方式访问每个芯片引脚。如下图
电路板的日益复杂和surface mount technologies(表面贴装技术)等技术的转变导致系统设计师们达成一致，采用了一种统一的基于扫描的方法，称为边界扫描（boundary scan） ，用于在电路板（任何系统）级别上测试芯片。
假设你在设计一个SoC，其中涉及许多引脚用于连接不同的子系统。使用边界扫描，你可以测试这些引脚之间的连通性。例如，你可以加载一个测试模式，通过观察TDO信号，检查引脚是否按预期连接，是否存在开路或短路问题。
在芯片制造过程中，可能会出现一些未预料的故障，例如焊接问题或晶体管故障。通过加载适当的测试模式，你可以观察故障信号在扫描链上的传播路径，从而精确定位故障的位置，加速故障排除过程。
在芯片设计的早期阶段，你可以使用边界扫描来验证芯片的基本逻辑功能。通过加载测试模式，观察输出是否与预期相符，以验证芯片的功能性。
假设你遇到了一些奇怪的硬件问题，如时序问题或逻辑错误。通过在扫描链上加载特定的测试模式，你可以观察信号在芯片内部的传播路径，有助于理解信号的行为，从而更有效地进行硬件调试。
在多芯片系统中，边界扫描可以用于测试不同芯片之间的连接性。通过将多个芯片的边界扫描链连接在一起，你可以检测引脚和信号在整个系统中的传输情况。
总之，边界扫描在SoC设计验证中是一项强大的工具，可以帮助芯片验证工程师在不同阶段进行测试、调试和验证，从而提高芯片的质量和可靠性。
边界扫描的核心思想是在SoC芯片的引脚周围添加一个可控的扫描链，将芯片内部的逻辑电路与扫描链相连。这个扫描链由一系列的Scan Cells （扫描单元）组成，每个扫描单元可以存储一个比特的数据。通过操控TAP（Test Access Port） 控制器，我们可以在扫描链上加载测试模式，然后观察测试模式在芯片内部的传播路径，从而实现测试、调试和验证。
没错，下面就要详细介绍一下我们的主角TAP了！
TAP控制器是边界扫描的核心，它负责管理扫描链的操作。TAP控制器通过四个或个基本信号进行操作测试访问端口。
不过一般我们用到前面四个就够了，下面是一个基本的TAP架构图。
下面我们就按照这张图剖析一下TAP的组成部分。
TAP控制器是TAP的核心，负责控制扫描操作的状态转换和时序。它通过TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output） 等信号，实现从一个状态到另一个状态的转换，以便执行不同的操作，如扫描测试数据或读取测试结果。TAP控制器按照JTAG（Joint Test Action Group） 标准定义了一组状态，如Test-Logic-Reset状态、Run-Test/Idle状态等。
指令寄存器用于存储和加载TAP控制器的指令。在测试和调试过程中，可以通过加载不同的指令来控制芯片的操作。指令寄存器的位数决定了可以定义的不同指令数量，从而支持多种测试模式和操作。
测试数据寄存器用于存储测试模式数据，它是扫描链（Scan Chain）的一部分。测试数据可以被输入到芯片进行测试，也可以从芯片中读取出来作为测试结果。测试数据寄存器又分为不同的子寄存器，包括边界扫描寄存器、旁路寄存器和TDO驱动器。
边界扫描寄存器是边界扫描技术的关键，用于在芯片的引脚之间插入可控的测试逻辑。它允许在芯片的输入和输出之间插入额外的逻辑电路，以便执行连通性测试、故障定位等操作。边界扫描寄存器存储了扫描链上的测试模式数据，可以通过TAP控制器进行加载和读取。
旁路寄存器用于绕过边界扫描逻辑，将芯片的输入直接连接到输出。当不需要执行边界扫描时，可以通过加载指令将旁路寄存器中的数据传递给TDO输出，从而绕过边界扫描逻辑。
TDO驱动器用于控制TDO输出信号的驱动。在扫描链操作期间，TDO驱动器负责将测试模式数据从边界扫描寄存器或旁路寄存器传递到TDO输出。TDO驱动器还可以根据TAP控制器的状态控制TDO输出信号的开关。
这些组成部分共同构成了TAP结构，使得边界扫描技术成为一种强大的芯片测试和验证工具，为集成电路设计和制造过程提供了可靠的测试手段。下图展示一个完整的Boundary SCAN。
Boundary SCAN作为现代芯片设计验证领域的重要工具，为芯片工程师提供了强大的测试和调试手段。它通过TAP控制器、扫描链和测试模式生成器的协同工作，实现了对芯片内部功能和连通性的全面测试。
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