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【行业知识】Fab工艺介绍:总结回顾篇

以后就可以常见面啦!👆

半导体制造工艺相当复杂,流程繁多,我们已经陆续介绍了Fab里几种最关键的工艺环节,下面来做一个简单的回顾。

Litho

Litho篇全文

该工序的作用是将图形信息从掩模版(也称掩膜版)上保真传输、转印到半导体材料衬底上,关键指标包括分辨率、灵敏度、套准精度、缺陷率等。

Etch

Etch篇全文

蚀刻可以结合物理和化学方法,通过调节气体比例、温度、电场强度和气压等各种参数,使晶圆的数千亿个晶体管具有相同的图形,在任何条件下都尽量保持统一一致的结果,这对于良率提升来说非常重要。

在实际的刻蚀工艺中,我们主要采用将化学和物理方法相结合的反应性离子刻蚀(RIE, Reactive Ion Etching)。RIE属于干刻蚀的一种,它将刻蚀气体变成等离子,以进行刻蚀。

刻蚀使用的气体也很重要。

IMP

IMP篇全文

IMP是一种主要的掺杂方式(另一种常见的是扩散)。

Thin Film

TF篇全文

TF是衬底上生长金属,绝缘体薄膜的沉积技术。均一性和再现性非常重要。分为物理气相沉积PVD和化学汽相淀积CVD。

目前, PVD用于半导体制造领域逻辑和储存器上制造超薄,超纯金属和过渡金属氮化物薄膜 。

还有一种特殊的沉积方式,即原子层沉积(ALD,Atomic Layer Deposition)。原子层沉积与普通的化学沉积有相似之处,但是又有不同的生长方式。 ALD最大优势在于沉积层极其均匀的厚度和优异的台阶覆盖率 。

WET

WET篇全文

半导体清洗方法多样,包括干法和湿法清晰,如RCA清洗、稀释化学法、IMEC清洗法等,RCA清洗是目前最常用的。标准流程如下:

此外,清洗后的干燥流程也很重要。

CMP

CMP篇全文

CMP工艺在半导体制造的多个阶段中应用广泛,包括但不限于集成电路的金属层间绝缘介质的平坦化、铜互连工艺中的铜布线平坦化,以及晶体管栅极制造中的平坦化。可以分为化学和物理过程。

END

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