芯片采用AT89C2051,温度检测采用DS18B20,显示3位共阴数码管,电路非常简单。
原理仿真图:实际运用中请将P1口加上1K上拉电阻。
采用基本和数码管大小的一块实验洞洞板来焊接,电源采用常用的5VminiUSB供电(数据线好找些,可以直接USB,比较方便),晶振采用了坏U盘中的12MHZ的小晶振嵌入到集成插座的中间空隙以减小体积。为了减小数码管和其他电子元件通电后发热对DS18B20温检产生检测误差,将DS18B20的3只脚分别焊接到一个立体声插头上,然后再通过立体声插座再传递到AT89C2051的P3.7端口。数码管采用插接件,方便修改和烧录单片机程序。
只拍照的正面,背面就是乱云飞渡人从容啦
装好通电后效果,测试中还是感觉到电子元件温升的差异
源程序如下:
#include<reg52.h> #include <intrins.h> #define uchar unsigned char #define uint unsigned int sbit DATA = P3^7; //DS18B20接入口 uchar code table[]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f,0x77,0x7c,0x39,0x5e,0x79,0x71}; char bai,shi,ge; //定义变量 /*延时子函数*/ void delay(uint num) { while(num--) ; } /*************DS18b20温度传感器函数*********************/ Init_DS18B20(void) //传感器初始化 { uchar x=0; DATA = 1; //DQ复位 delay(10); //稍做延时 DATA = 0; //单片机将DQ拉低 delay(80); //精确延时 大于 480us //450 DATA = 1; //拉高总线 delay(20); x=DATA; //稍做延时后 如果x=0则初始化成功 x=1则初始化失败 delay(30); } //读一个字节 ReadOneChar(void) { uchar i=0; uchar dat = 0; for (i=8;i>0;i--) { DATA = 0; // 给脉冲信号 dat>>=1; DATA = 1; // 给脉冲信号 if(DATA) dat|=0x80; delay(8); } return(dat); } //写一个字节 WriteOneChar(unsigned char dat) { uchar i=0; for (i=8; i>0; i--) { DATA = 0; DATA = dat&0x01; delay(10); DATA = 1; dat>>=1; } delay(8); } //读取温度 int ReadTemperature(void) { uchar a=0; uchar b=0; int t=0; float tt=0; Init_DS18B20(); WriteOneChar(0xCC); // 跳过读序号列号的操作 WriteOneChar(0x44); // 启动温度转换 Init_DS18B20(); WriteOneChar(0xCC); //跳过读序号列号的操作 WriteOneChar(0xBE); //读取温度寄存器等(共可读9个寄存器) 前两个就是温度 a=ReadOneChar();//低位 b=ReadOneChar();//高位 t=b; t<<=8; t=t|a; tt=t*0.0625; t= tt*10+0.5; return(t); } /*显示子函数*/ void display(int bai,int shi,int ge) { P3=0XFB; //显示小数点 P1=0X80; //显示小数点 delay(50);//显示小数点 P3=0xf7; P1=table[bai];//显示千位 delay(50);//一小段延时动态显示 P3=0xfb; P1=table[shi];//显示百位 delay(50); P3=0xfd; P1=table[ge];//显示十位 delay(50); } void main() { int temp; while(1) { temp=ReadTemperature();//读温度 bai=temp%1000/100;//显示百位 shi=temp%100/10;//显示十位 ge=temp%10;//显示个位 display(bai,shi,ge);//显示函数 } } |
|